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          1. 微分干涉(DIC)

            微分干涉(DIC)

            適用于檢測高度差異極其微小的樣本,包括金相組織、
            礦物、磁頭研磨面和硬盤表面及晶圓研磨面。

            產品特點

              不必考慮相差環及聚光鏡環的遮擋,可以實現高數值孔徑的物鏡觀察,提高軸向分辨率
              所觀察到的樣品各組成相間的相對層次關系突出,表現出浮雕或三維圖像
            產品特點
            產品參數
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